北京合能陽光新能源技術有限公司(以下簡稱合能陽光)總部位于北京通州工業(yè)開發(fā)區(qū),公司主導產品涉及半導體及光伏行業(yè)的檢測儀器、工藝和耗材領域,是集研發(fā)、生產、銷售、服務及對外投資于一體的綜合性高科技公司。
公司所服務的客戶來自于國內知名企業(yè),如賽維LDK、保利協(xié)鑫、比亞迪、中電集團、億晶光電、旭陽雷迪、錦州陽光、Ferro申和熱磁、國泰半導體、晶鑫科技、湖北晶星、大全新能源、新疆新能源、晶龍集團、Pro-Q、光為、國電集團、京運通、七星華創(chuàng)、新天源、超日、中國科學院、中國表面物理與化學研究、成都光電、包頭山晟等幾百家半導體和太陽能單位。
公司現有員工34人,大專本科以上學歷25人,研究生6人,博士1人,建筑面積3000m2。
近年來,公司的海外市場發(fā)展勢頭良好,產品出口到美國、歐洲、韓國、新加坡等國家地區(qū),目前公司在和海外同行建立產品加工合作關系的同時還建立自己的代理商和銷售中心。
拉單晶專用鎵摻雜劑(GaDopant)鎵為IIIA族元素,原子量為69.72,英文名稱為Gallium,簡稱Ga。鎵質軟,淡藍色光澤。熔點29.78℃。沸點2403℃。具有無毒、不揮發(fā)、不燃、不爆...
籽晶是生長單晶的種子,也叫晶種。用不同晶向的籽晶做晶種,會獲得不同晶向的單晶。本公司提供以下多種類型籽晶: ■全錐型籽晶 ■φ14.0/8.0mm*120mm ■φ17.5/11.5mm*1...
母合金摻雜劑■摻雜,又稱配料,摻雜的目的主要是用來改變硅熔體中施主雜質(如磷)或受主雜質(如硼)的雜質濃度,使其生長出的單晶電阻率達到規(guī)定的要求。所謂“母合金”就是雜質元素與硅的合金。本公司提供以下多...
我公司的經銷的進口硅材料氧碳含量測試儀器,所測硅料硅棒硅片氧、碳含量自動、快速、準確,可靠性高,穩(wěn)定性好,一致性佳,ASTM線性度對0.0%T的偏離小于0.07%T,是全球公認標準的氧碳含量測試儀...
太陽能電池片數片機,可對太陽能硅片及電池片進行準確計數分析。是一款簡潔、高效、、高品質的數片機。同時可配合barcode系統(tǒng)進行產品管理,避免數量不準確而帶來的麻煩,避免公司品牌因為數量之差而蒙受...
HS-ATS-100硅片電池片自動測試架是使用單板機可編程控制,步進電機驅動,絲桿滑動,定位,操作方便,可隨意調節(jié)探頭的下降點,上升點固定,探頭在點的停留時間范圍廣(從0-20秒)。硅片硅錠均可測...
HS-JF-Z2藍寶石定向儀,是我公司基于市場目前缺乏對晶體生長切割后,需要對晶圓進行晶向指數分析,晶體長勢分析,晶體缺陷分析等一系列有益于晶體更完好的呈現,它利用布拉格衍射方程2dHKLsinθ...
硅片測厚儀(HS-WTT) 適用于量程范圍內的硅片等各種材料的厚度測量。 特征 液晶顯示 接觸式測量 手動測量模式 數據實時顯示 具有輸出接口,可選配適配器實現232接口功能 技術...
HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流(EddyCurrent)測試技術,能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試?! o接觸式電阻率型號測試儀-產品特點 ...
手動硅片測試儀可以測量硅片厚度、總厚度變化TTV、彎曲度,該儀器適用于Si,GaAs,InP,Ge等幾乎所有的材料,所有的設計都符合ASTM(美國材料實驗協(xié)會)和Semi標準,確保與其他工藝儀器的...
HS‐POSRT原生多晶電阻率測試儀是一款高端電阻率測試儀器,具有電阻率大量程及超大量程測量的特點,實現了電阻率從0.0001歐姆.厘米到幾萬歐姆.厘米(可擴展)的測試范圍,具有測量精度高、穩(wěn)定性...
HS-PSTT原生多晶及硅芯型號測試儀是一款高端半導體材料型號測試儀器,具有大量程測試范圍的特點,尤其適用于西門子法原生硅料生產企業(yè)的高阻硅料(含硅芯、檢磷棒、檢硼棒等)以及各種低阻硅料型號測量,...
硅料綜合測試儀HS-PSRT 本儀器是運用四探針測量原理的多功能綜合測試裝置,它可以測量片狀、塊狀半導體材料的徑向和軸向電阻率,適用于半導體及太陽能行業(yè)的篩選。硅料綜合測試儀-產品特點■同時檢測...
1)適合于硅材料的氧、碳含量的測定; 2)可實現硅料中氧碳含量自動、快速、準確的測量; 3)具備完整的譜圖采集、光譜轉換、光譜處理、光譜分析及輸出功能,使得操作更簡單、方便、靈活?! ?)全密...
NIR-01-3D型紅外探傷測試儀是采用歐洲CNC工程鋁合金材料,其表面都采用了高強度漆面和電氧化工藝保護,系統(tǒng)外框采用高質量工業(yè)設計,所有的部件的設計都達到了長期高強度使用及最小維護量的要求,做...
HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強大的無接觸少子壽命掃描儀,能夠對單晶硅棒、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測試,其通過微波光電衰退特性原理來測...
金屬四探頭電阻率方阻測試儀-HS-MPRT-5 本儀器用來測量硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ITO導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻的小型儀器.本儀器按照半導體材料電阻率的國際及國家標準測試...
HS-CLT少子壽命測試儀是一款功能異常強大的少子壽命測試儀,不僅適用于硅片少子壽命的測量,更適用于硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶等多種不規(guī)則形狀硅少子壽命的測量。少子測試量程從1μs到2...
Helios-PL光致發(fā)光測試系統(tǒng)能夠對多種太陽能電池少子壽命進行快速二維分析,能夠準確的測量和計算出電池的缺陷分布及密度,同時準確反饋結果以很好的改進電池的生產工藝?! ‘a品特點: ■適用幾乎...
我公司擁有多名日本專家、博士工程師及經營管理團隊,擁有專業(yè)從事碳化硅涂層以及對石墨產品進行高溫純化除雜技術。公司產品及技術廣泛應用于半導體行業(yè),LED行業(yè),航天行業(yè),化工行業(yè),光伏行業(yè),包裝行業(yè),...
特別提醒:本頁面所展現的公司、產品及其它相關信息,均由用戶自行發(fā)布。
購買相關產品時務必先行確認商家資質、產品質量以及比較產品價格,慎重作出個人的獨立判斷,謹防欺詐行為。