HS-MWR-2S-3無接觸少子壽命掃描儀是一款功能異常強(qiáng)大的無接觸少子壽命掃描儀，能夠?qū)尉Ч璋?、多晶硅塊及硅片提供快速、無接觸、無損傷、高分辨率的多功能掃描測(cè)試，其通過微波光電衰退特性原理來測(cè)量非平衡載流子壽命的，并且單晶硅棒、多晶硅塊無須進(jìn)行特殊處理。少子壽命測(cè)試量程從0.1μs到30ms,電阻率要求范圍：0.1-1000Ω.cm,，是太陽能電池硅片企業(yè)、多晶鑄錠企業(yè)、拉晶企業(yè)不可多得的測(cè)量儀器。

產(chǎn)品特點(diǎn)

■無接觸和無損傷測(cè)量

■自動(dòng)測(cè)量，具有傳送系統(tǒng)，可進(jìn)行連續(xù)測(cè)量

■快速測(cè)量，測(cè)試掃描速度達(dá)到2000mm/min

■測(cè)試范圍廣：包括硅塊、硅棒、硅片等少子壽命測(cè)量

■主要應(yīng)用于硅棒硅塊、硅片的進(jìn)廠、出廠檢查，生產(chǎn)工藝過程中重金屬沾污和缺陷的監(jiān)控等。

■性價(jià)比高，極大程度地降低了企業(yè)的測(cè)試成本。

推薦工作條件

■ 溫度：18-26℃■ 濕度：10%~80%■ 大氣壓：750±30毫米汞柱

技術(shù)指標(biāo)

■ 少子壽命測(cè)試范圍:0.1μs-20ms

■ 測(cè)試掃描速度:2000mm/min

■ 測(cè)試尺寸:215mm*215mm*500mm

■電阻率范圍：>0.1Ω.cm

■激光波長：904,測(cè)試功率范圍：50-500mw

■硅棒硅塊掃描間距：≥1mm

■ 儀器測(cè)試精度：±3.5％，信號(hào)處理偏差≤2％

■ 工作頻率：10GHz±0.5

■ 微波測(cè)試單元功率：0.01W±10%

■ 電源：～220V 50Hz 功耗＜200W

■ 主機(jī)尺寸：365mm * 645mm *565mm

■ 主機(jī)重量：30KG

典型客戶

河北，江西，江蘇，浙江，新疆等地拉晶鑄錠客戶。