HS-TRM-100型無接觸式電阻率型號測試儀是基于渦流（Eddy Current）測試技術，能夠對硅料、硅棒、硅錠及硅片進行無接觸、無損傷的體電阻率測試。

無接觸式電阻率型號測試儀-產(chǎn)品特點

■ 測試范圍廣，低阻可測至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm,高阻可測至100ohm.cm

■ 產(chǎn)品體積小，便于移動和攜帶

■ 采用渦流法測試硅錠、棒、回爐料體電阻率

■ 無接觸、無損傷快速測試

■ 測試前無需表面處理

■ 特別對于多晶，能夠有效避免晶界對測試的影響

■ 測試范圍：0.001-100 ohm.cm (分段測試）

■ 可選加無接觸PN型號測試功能

■ 可進行溫度和厚度的修正

無接觸式電阻率型號測試儀-技術指標

■硅棒硅塊可測量電阻率范圍：0.001-100Ohm.cm

■最小測試厚度：200μm

■測量時間：2秒/次

■最小測試面積：30x30 mm2

■推薦使用溫度：20℃

■濕度：≤80%

■氣壓：86-106kPa

■使用電壓：230±10V

■頻率，50±3Hz

■功率消耗：≤5W

■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm

典型客戶

美國，歐洲，亞洲及國內太陽能及半導體客戶。