產(chǎn)品介紹:
SD-300i用于測(cè)定單晶材料的表面缺陷，適用于科研、工業(yè)生產(chǎn)等需求。該儀器還是一臺(tái)半自動(dòng)高精度定向儀，實(shí)現(xiàn)了缺陷和定向雙功能。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
缺陷和定向雙功能
配有射線窗口電磁光閘和可靠的射線防護(hù)罩，確保使用
表格和曲線的形式顯示，一目了然
速度快，重復(fù)性好
效率高，數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)處理
技術(shù)參數(shù)：
測(cè)試時(shí)間：1-2分鐘
重復(fù)性精度：±5。
測(cè)角精度為±15
最小讀數(shù)1
典型客戶:
臺(tái)灣及國(guó)內(nèi)藍(lán)寶石及半導(dǎo)體客戶廣泛應(yīng)用。