光譜橢偏儀(PH-SE型)針對太陽能電池應用，可測量多晶硅/單晶硅絨面表面單層（二層或多層）減反射膜、和玻璃/有機基底上的薄膜太陽能電池。多層膜和非均勻薄膜的分析也非常出色。 針對太陽能電池應用的光譜橢偏儀基于的橢偏光路設計，高靈敏度探測單元和光譜橢偏儀分析軟件，可測量各種太陽能電池的薄膜厚度和光學常數(shù)，光學帶寬等。

光譜橢偏儀 - 產(chǎn)品特點

連續(xù)波長的光源為用戶提供了更大的應用空間

更簡便快捷的樣品準直方法

軟件具備豐富的材料數(shù)據(jù)庫

允許用戶自定義色散模型，更方便用戶研究新材料的光學性質(zhì)

全波長多角度同時數(shù)據(jù)擬合，EMA模型用戶多成分化合物和表面粗糙度分析

具有實驗數(shù)據(jù)和模擬數(shù)據(jù)三維繪圖功能

光譜范圍寬達250 - 1100nm (可擴展至250-1700nm)

功能強大的光譜橢偏測量與分析軟件

光譜橢偏儀 - 技術(shù)指標

光源：氙燈

光斑直徑：1-3mm

入射角范圍：20°到90°,5°/步

波長范圍：350-850nm， 250-1100nm， 250-1700nm：0.002°~ 0.02°

波長精度：1nm

測量時間: < 8s （取決于測量模式和粗糙度）

樣品尺寸: 125x125mm 156x156mm,200x200mm電池片, 其他尺寸

測量精度：0.02nm

折射率：0.0002,100nmSiO2 on Si

厚度測量范圍：0.01nm ~ 50um

消光比：10-6

光譜橢偏儀 - 可選配

CCD線陣列探測元件：200-850nm，350-1000nm

樣品顯微鏡

高穩(wěn)定性消色差補償器

透射測量架

XY移動樣品臺

光譜橢偏儀 - 典型客戶

美國，歐洲，亞洲及國內(nèi)太陽能及半導體客戶。