產(chǎn)品介紹:

Helios-PL光致發(fā)光測(cè)試系統(tǒng)能夠?qū)Χ喾N太陽(yáng)能電池少子壽命進(jìn)行快速二維分析，能夠準(zhǔn)確的測(cè)量和計(jì)算出電池的缺陷分布及密度，同時(shí)準(zhǔn)確反饋結(jié)果以很好的改進(jìn)電池的生產(chǎn)工藝。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

適用幾乎所有類型太陽(yáng)能電池：

單晶硅片及電池/多晶硅片及電池/薄膜電池/化合物電池

完整的檢測(cè)系統(tǒng)：

少子壽命掃描/串聯(lián)電阻掃描/硅片分類/隱裂/暗條件I-V曲線/光照條件I-V曲線

速度快，每片測(cè)試時(shí)間小于1秒

精度高，能實(shí)時(shí)找到每個(gè)致少子壽命降低的缺陷

可以監(jiān)控和優(yōu)化關(guān)鍵工藝，包括擴(kuò)散、去磷硅玻璃等等

可以在線和離線分析

功能強(qiáng)大的分析軟件，可以分析幾乎所有的缺陷

先投入先產(chǎn)出，投入產(chǎn)出比遠(yuǎn)高于行業(yè)的1：2

革命性的產(chǎn)品，未來(lái)的趨勢(shì)所在

技術(shù)參數(shù)：

銦砷鎵傳感器：900-1500nm

測(cè)試尺寸：23mm*23mm~200mm*200mm

像素：752×480pixel

尺寸：2m×2m*2m 重量：150kg

每片測(cè)試時(shí)間<1s

典型客戶:

美國(guó)，歐洲，亞洲及國(guó)內(nèi)太陽(yáng)能及半導(dǎo)體客戶。