硬盤(pán)上的磁道和我們每天走的道路相似，但又截然不同，道路壞了有時(shí)我們還可以繞路而行，可是當(dāng)硬盤(pán)出現(xiàn)壞道問(wèn)題時(shí)，就會(huì)使我們的數(shù)據(jù)受到威脅，關(guān)于怎樣預(yù)防硬盤(pán)壞道的發(fā)生不妨瀏覽《如何正確使用才能減少壞道的發(fā)生》一文。

今天天偉接到這樣一例關(guān)于壞道的數(shù)據(jù)恢復(fù)

客戶(hù)描述說(shuō)，進(jìn)系統(tǒng)特別慢，好不容易進(jìn)去后，拷貝數(shù)據(jù)時(shí)會(huì)很長(zhǎng)時(shí)間，但總是報(bào)輸入或輸出錯(cuò)誤而無(wú)法拷貝。在嘗試多次后，連系統(tǒng)都進(jìn)不去了，偶爾還會(huì)藍(lán)屏。

根據(jù)客戶(hù)描述的癥狀，徐工猜測(cè)應(yīng)該是壞扇區(qū)所致，通過(guò)PC3000-UDMA檢測(cè)后，發(fā)現(xiàn)確實(shí)是有壞扇區(qū)，而且數(shù)據(jù)比較繁多，壞扇區(qū)的產(chǎn)生原因可能因?yàn)榇蓬^重創(chuàng)磁盤(pán)表面（比如磁盤(pán)在運(yùn)行過(guò)程中受到碰撞或其他沖擊）或磁化層的自然老化（使用時(shí)間太長(zhǎng)，尤其當(dāng)磁盤(pán)在不同溫度條件下運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)可能會(huì)導(dǎo)致磁化層的損傷）。通過(guò)了解，李小姐在平時(shí)的使用中很小心，很少移動(dòng)機(jī)箱，更不會(huì)有磕碰現(xiàn)象，所以判斷壞扇區(qū)是硬盤(pán)壽命所致，此塊硬盤(pán)已經(jīng)使用7年，一般硬盤(pán)壽命在3年，出現(xiàn)壞扇區(qū)屬于正?，F(xiàn)象。

磁盤(pán)在出現(xiàn)壞扇區(qū)時(shí)，數(shù)據(jù)恢復(fù)的可能性主要取決于壞扇區(qū)的數(shù)量和在磁盤(pán)表面的位置，通過(guò)對(duì)磁盤(pán)的檢測(cè)，確定壞扇區(qū)數(shù)據(jù)比較多，并且位于操作系統(tǒng)多使用的磁盤(pán)區(qū)域，例如：根目錄、文件定位表等。對(duì)于恢復(fù)難度比較大，此時(shí)徐工決定使用國(guó)內(nèi)先進(jìn)設(shè)備效率源DC進(jìn)行恢復(fù)數(shù)據(jù)。使用DC的SHADOW影子技術(shù)，針對(duì)磁頭和扇區(qū)不穩(wěn)定情況，限度減少對(duì)源盤(pán)的讀操作，從而有效解決磁頭頻繁讀寫(xiě)和劃傷扇區(qū)的二次損傷問(wèn)題；運(yùn)用化的讀取算法驅(qū)動(dòng)和DBER動(dòng)態(tài)平衡增效讀取技術(shù)，能有效防止讀取數(shù)據(jù)造成的死循環(huán)及不響應(yīng)情況，與智能壞扇區(qū)跳躍功能有效配合，獲得更多有效數(shù)據(jù)，提高文件打開(kāi)的成功率。